測(cè)試探針，是一種應(yīng)用于電子測(cè)試中測(cè)試PCBA的一種測(cè)試連接電子元件。

  測(cè)試探針的種類(lèi)有PCB探針、ICT功能測(cè)試探針(汽車(chē)線(xiàn)束測(cè)試探針、電池針、電流電壓針、開(kāi)關(guān)針、電容極性針、高頻針)、BGA測(cè)試探針等。

  測(cè)試探針可以根據(jù)產(chǎn)地不同又分為美國(guó)QA探針、美國(guó)ECT探針、美國(guó)IDI探針等，德國(guó)INGUN探針，德國(guó)PTR探針等，韓國(guó)LEENON探針，臺(tái)灣CCP中國(guó)探針，臺(tái)灣UC佑傳探針等。

  測(cè)試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在材質(zhì)、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制作工藝上。半導(dǎo)體測(cè)試探針?lè)謬?guó)產(chǎn)、臺(tái)灣香港、進(jìn)口三種，而國(guó)內(nèi)的產(chǎn)品其材質(zhì)很多用進(jìn)口材質(zhì)。