測(cè)試探針的材質(zhì)有W，ReW,CU、 A+

　　1.探針主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。

　　2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。

　　懸臂探針：劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹(shù)脂型(Epoxy Type) 垂直探針：垂直型(Vertical Type)

　　1.ICT探針　(ICT series Probes) 一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.

　　2.界面探針(Interface Probes) 非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.

　　3.微型探針(MicroSeries Probes) 兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

　　4.開(kāi)關(guān)探針(Switch Probes) 開(kāi)關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流.

　　5.高頻探針(Coaxial Probes) 用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

　　6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes) 彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.

　　7.高電流探針(High Current Probes) 探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.

　　8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes) 直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

　　9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts) 一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).

　　10.汽車(chē)線束測(cè)試測(cè)試探針 專業(yè)用于汽車(chē)線束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A 除以上類(lèi)型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

　　深圳市華榮華電子科技有限公司探針采用日本高精度CNC車(chē)床車(chē)削成形，經(jīng)過(guò)精密的鍍層、硬度、壽命測(cè)試、產(chǎn)品品質(zhì)已與歐、美、日、等一些知名產(chǎn)品相當(dāng)。同時(shí)還提供德國(guó)INGUN、美國(guó)QA、臺(tái)灣CCP等名牌探針。