由于半導體產(chǎn)品的生產(chǎn)工藝十分繁雜，任何工序的差錯都可能導致出現(xiàn)大量產(chǎn)品質(zhì)量不合格，并對終端應用產(chǎn)品的性能造成重大影響，因此測試探針對于半導體產(chǎn)品的生產(chǎn)而言至關重要，貫穿半導體產(chǎn)品設計、制造、封裝及應用的全過程。

　　探針是半導體測試中所需的重要耗材，通過與測試機、分選機、探針臺配合使用，用于設計驗證、晶圓測試、成品測試環(huán)節(jié)，篩選出產(chǎn)品設計缺陷和制造缺陷，在確保產(chǎn)品良率、控制成本、指導芯片設計和工藝改進等方面具有重要作用。

　　深圳市華榮華電子科技有限公司探針采用日本高精度CNC車床車削成形，經(jīng)過精密的鍍層、硬度、壽命測試、產(chǎn)品品質(zhì)已與歐、美、日、等一些知名產(chǎn)品相當。同時還提供德國INGUN、美國QA、臺灣CCP等名牌探針。