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  • DP058-BJ-5.7L雙頭探針

    DP058-BJ-5.7L雙頭探針

    產(chǎn)品型號(hào):DP058-BJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.58mm,總長(zhǎng)度為5.7mm、針的兩端的頭型為尖頭,圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • DP051-BU-6.3L雙頭探針

    DP051-BU-6.3L雙頭探針

    產(chǎn)品型號(hào):DP051-BU-6.3L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.51mm,總長(zhǎng)度為6.3mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • DP051-BU-3.3L雙頭探針

    DP051-BU-3.3L雙頭探針

    產(chǎn)品型號(hào):DP051-BU-3.3L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.51mm,總長(zhǎng)度為3.3mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
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  • 雙頭探針DP048-BJ-8.1L

    雙頭探針DP048-BJ-8.1L

    產(chǎn)品型號(hào):DP048-BJ-8.1L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品介紹:探針外徑為0.48mm,總長(zhǎng)度為8.1mm、針的兩端的頭型為尖頭、圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
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  • 雙頭探針DP038-JJ 5.7L

    雙頭探針DP038-JJ 5.7L

    產(chǎn)品型號(hào):DP038-JJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長(zhǎng)度為5.7mm、針的兩端的頭型為圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
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  • 雙頭探針DP038-FJ 5.7L

    雙頭探針DP038-FJ 5.7L

    產(chǎn)品型號(hào):DP038-FJ-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長(zhǎng)度為5.7mm、針的兩端的頭型為爪頭,圓頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • 雙頭探針DP038-BF-5.7L

    雙頭探針DP038-BF-5.7L

    產(chǎn)品型號(hào):DP038-BF-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長(zhǎng)度為5.7mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • 雙頭探針DP038-BB-5.7L

    雙頭探針DP038-BB-5.7L

    產(chǎn)品型號(hào):DP038-BB-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長(zhǎng)度為5.7mm、針的兩端的頭型為尖頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
    熱線電話:400-183-6682

  • 雙頭探針DP035-BF-6.3L

    雙頭探針DP035-BF-6.3L

    產(chǎn)品型號(hào):035-BF-6.3L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.35mm,總長(zhǎng)度為6.3mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
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  • 雙頭探針DP035-BU 6.3L

    雙頭探針DP035-BU 6.3L

    產(chǎn)品型號(hào):035-BU-6.3L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.35mm,總長(zhǎng)度為6.3mm、針的兩端的頭型為尖頭,爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測(cè)試誤判率低
    主要應(yīng)用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應(yīng)用行業(yè):手機(jī)、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導(dǎo)體測(cè)試探針進(jìn)行測(cè)試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測(cè)試行業(yè)。
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